2016華南理工大學(xué)商務(wù)與經(jīng)濟統(tǒng)計考研大綱

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920商務(wù)與經(jīng)濟統(tǒng)計考試大綱

一、考試目的：

《商務(wù)與經(jīng)濟統(tǒng)計》作為全日制統(tǒng)計學(xué)專業(yè)碩士研究生復(fù)試考試科目，其目的是考察考生是否具備統(tǒng)計學(xué)的基本理論基礎(chǔ)水平和是否具備實際數(shù)據(jù)分析的能力。

二、考試性質(zhì)

本考試是一種測試應(yīng)試者理論掌握程度和實際運用能力的綜合水平測試。

三、考試基本要求

要求考生比較系統(tǒng)地了解商務(wù)與經(jīng)濟統(tǒng)計的基礎(chǔ)知識和基本理論體系，包括參數(shù)與非參數(shù)的分析原理與方法。

四、考試形式。

閉卷

五、考試內(nèi)容：

（一）描述統(tǒng)計學(xué)的基礎(chǔ)與方法

考試內(nèi)容：

統(tǒng)計學(xué)的基本概念、數(shù)據(jù)匯總與圖表、集中趨勢、離散趨勢的測度與應(yīng)用

考試要求：

1、掌握平均數(shù)、眾數(shù)、中位數(shù)的計算與應(yīng)用

2、掌握方差與方差系數(shù)的計算與應(yīng)用

3、掌握統(tǒng)計匯總的基本程序與方法

（二）抽樣分布的相關(guān)理論與應(yīng)用

考試內(nèi)容:概率與抽樣分布理論，抽樣推斷及假設(shè)檢驗的應(yīng)用

考試要求：

1、深入理解抽樣分布的概念

2、能夠進行的參數(shù)推斷。

3、對假設(shè)檢驗理論有深入理解，能夠進行均值、比例、方差的假設(shè)檢驗

4、Z檢驗T檢驗和F檢驗的應(yīng)用條件和使用方法。

（三）擬合優(yōu)度和方差分析

考試內(nèi)容：

多項總體的擬合優(yōu)度檢驗、獨立性檢驗、多總體均值相等檢驗

考試要求：

1、能夠進行多總體擬合優(yōu)度檢驗

2、理解方差分析原理

3、掌握K個總體均值相等檢驗

（四）回歸分析

考試內(nèi)容：一元線性回歸模型的建立與檢驗；多元線性回歸模型的建立與檢驗。

考試要求：

1、了解回歸分析的數(shù)據(jù)要求與應(yīng)用條件

2、掌握一元與多元線性回歸模型的建立與檢驗

（五）指數(shù)

考試內(nèi)容：指數(shù)的概念、編制、應(yīng)用

考試要求：

1、指數(shù)的概念

2、編制指數(shù)的兩大公式的計算與應(yīng)用

3、了解消費價格指數(shù)、生產(chǎn)者價格指數(shù)、道瓊斯股價指數(shù)。

（六）預(yù)測

考試內(nèi)容：

時間序列的成分、時間序列的預(yù)測方法

考試要求：

1、時間序列包括的要素

2、移動平均、平滑法的使用

3、季節(jié)指數(shù)的計算

（七）非參數(shù)統(tǒng)計

考試內(nèi)容：

符號檢驗、威爾克森符號秩檢驗、克魯斯卡爾-沃利斯檢驗

考試要求：

熟練使用符號檢驗、威爾克森符號秩檢驗、克魯斯卡爾-沃利斯檢驗

六、考試題型

簡答、計算和應(yīng)用

七、參考書目：《商務(wù)與經(jīng)濟統(tǒng)計》；機械工業(yè)出版社；戴維R安德森；丹尼斯J斯維尼；托馬斯A威廉斯著。原書第九版。